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泰勒粗糙度測量儀
產品型號：Taylor Hobson廠商性質：代理商更新時間：2020-01-16瀏覽次數：2793
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泰勒粗糙度測量儀
應用：
過程控制
研磨、車削、銑削、絎磨、拋光、壓擠
汽車
齒輪、連桿、 缸孔、缸體、曲軸
重工業
造船業、輸油管道、鋼板
航空航天
渦輪葉片、渦輪軸、機翼復合材料
其他
印刷輥、地板、粘合
*耐用的粗糙度測量儀，適用于車間、工業和檢測室的應用
同包括精密軸承、汽車和航空航天工程等行業的生產商們有著緊密的合作關系，泰勒霍?普森專注于研發對于現今精密行業中zui關鍵的質量控制技術。新型Surtronic S-100系列儀器能夠為您的粗糙度測量需求提供多種解決方案，包括多樣化的系統和應用相關配件，并且能夠針對特殊應用的配件定制工裝。
1、快速可靠的測量
輕輕的按下測量按鈕，在幾分鐘內就能得到一個完整的可追溯的測量結果，包括可在屏幕上顯示的詳細輪廓曲線圖或者自動打印出測量結果，打印機可選。
2、用戶友好使用界面
Surtronic S-100系列儀器像其他導航或者智能手機一樣，擁有4.3大尺寸工業用觸屏，易讀性強。一頁上可顯示多至7個參數，以及測量設置和系統信息。
整個機身由塑化橡膠包裹。聚脂薄膜保證了觸 摸屏的持久耐用性，內部有抗磨損的齒輪和軸承，以及堅固的不銹鋼驅動機構。系統電源是一個3000毫安時的大容量鋰聚合物電池，一次充電便可進行至少2000次測量。
----即開即用能夠讓儀器在待機狀態下1秒即可啟用測量，充滿電后待機能力長達5000個小時。
英國泰勒Surtronic S116粗糙度儀技術規格：
測量能力 | S-116 | S-128 | |
傳感器 | 量程 | 200 µm / 100 µm / 10 µm | 400 µm / 100 µm / 10 µm |
| 分辨率 | 100 nm / 20 nm / 10 nm | 50 nm / 10 nm / 5 nm |
| 低噪音 (Ra) | 250 nm / 150 nm / 100 nm | 150 nm / 100 nm / 50 nm |
| 重復性 (Ra) | 1 % 值 + 噪 音 | 0.5 % 值 + 噪 音 |
| 傳感器類型 | 電感 | |
| 測量力 | 150-300 mg | |
| 測頭針尖半徑 | 5 µm (200 µin)默認/2 µm (80 µin)或10 µm (400 µin) 可選 | |
| 測量類型 | 導塊滑動 | |
校正 | 過程 | 自動軟件校正程序 | |
| 標準 | 能夠根據ISO 4287粗糙度標準校正 | |
分析 | 濾波器取樣長度 | 0.25 mm/0.8 mm/2.5 mm | |
| 濾波器類型 | 2CR/高斯 | |
| 評價長度 | 0.25 mm-17.5 mm(0.01 in-0.70 in) | 0.25 mm-25.0 mm(0.01 in-1.00 in) |
| X軸zui大行程 | 17.5 mm | 25.5 mm |
速度 | 測量速度 | 1 mm/秒 (0.04 in/秒) | |
| 返回速度 | 1.5 mm/秒 (0.06 in/秒) | |
分析能力（儀器） | S-116 | S-128 | |
參數 | 標準 | ISO 4287, ISO 13565-1, ISO 13565-2, ASME 46.1, JIS 0601, N31007 | |
| ISO基本 | Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, Rpc, RSm, Rz1max | |
| ISO高級 | 可選 | Rk, A1, A2, Mr1, Mr2, Rpk, Rvk |
| ASME | Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rdq, RSm, Rpm, Rda | |
| JIS | Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, RSm, RzJIS, Rc, Rku, Rdc | |
| 其他 | R3z (Daimler Benz) | |
| ISO原始參數 | 可選 | Pa, Pv, Pp, Pz, Pt, Pq, Psk, Pmr, Pdq, Ppc, PSm, Pz1max |
| 單位 | µm / µin
| |
技術指標 | S-116 | S-128 | ||
語言 | 基本 | 英語、法語、德語、意大利語、西班牙語 | ||
| 擴展 | 捷克語、葡萄牙語、羅馬尼亞語、匈牙利語、瑞典語、俄語 | ||
| 亞洲語種 | 日語 | ||
數據輸出 | 顯示屏 | 每頁可顯示7個結果，在屏幕上也可顯示帶XZ軸的輪廓圖形 | ||
| 打印機 | 輸出設置、結果和高分辨率輪廓曲線圖 | ||
| 電腦連接 | TalyProfile分析所有數據 | ||
數據存貯 | 內部 | 100個測量結果，1個原始輪廓 | ||
| USB(提供4GB大小) | 可儲存多于39,000個原始輪廓， 每批可儲存大于100,000個結果（約 70批） | ||
| 電腦連接 | 無限數據儲存空間 | ||
SPC/統計 | 內部 | 可選 | zui小值，zui大值，平均值和標準方差 | |
| USB(內存4GB) | 可選 | ASCII模式導出所有結果到SPC | |
| 電腦連接 | 完整統計過程控制和使用TalyProfile軟件分析所有參數的公差值 | ||
電池 | 充電器 | USB 5v 1A 110-240VAC 50/60Hz | ||
| 充電時間 | 4個小時 | ||
| 電池壽命 | 2000次測量 | ||
| 待機時長 | 5000個小時 | ||
| 即時接通 | 待機啟動只需1秒便可進行測量 | ||
| 自動睡眠狀態 | 30秒 –6個小時 | ||
儀器規格 | S-116 | S-128 | ||
規格 | 重量（包含傳感器） | 0.5 Kg (1.1 lbs) | ||
| 電源 | 可充電的鋰電池 | ||
操作環境 | 溫度 | 5 - 40 °C (41 - 104 °F) | ||
| 濕度 | 0 - 80 %（無冷凝） | ||
儲存環境 | 溫度 | 0 - 50 °C (32 - 122 °F) | ||
| 濕度 | 0 - 80 %（無冷凝） | ||
| Lite | Silve | Gold |
ISO 4287 | |||
Rz, Rp, Rv, Rz, Rc, Rt, Ra, Rq, Rsk,Rku, RSm, Rdq, Rmr, Rdc, RPc | * | * | * |
Pp, Pv, Pz, Pc, Pt, Pa, Pq, Psk, Pku,PSm, Pdq, Pmr, Pdc, PPc | * | * | * |
Wp,Wv,Wz,Wc,Wt,Wa,Wq,Wsk, Wku,WSm,Wdq,Wmr,Wdc,WPc |
| * | * |
ISO 13565 |
|
|
|
Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2 |
|
| * |
Ppq, Pvq, Pmq |
|
| * |
Rpq, Rvq, Rmq |
|
| * |
ISO 12085 |
|
|
|
R, AR, Rx, Pt, Kr, Nr, SR, SAR |
|
| * |
W,AW,,Wte,Kw, Nw,SW,SAW |
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| * |
Trc, HTrc, Rke, Rpke, Rvke |
|
| * |
其它2D參數 |
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PLq, Pda, PLa, PLo, PzJIS, P3z,Pmax, Ptm,Py,PH, PHSC,PD,PS, Pvo, Prms, PTp, PHTp, Pfd, Ppm |
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|
* |
RLq, Rda, RLa, RLo, RzJIS, R3z,Rmax, Rtm, Ry, RH, RHSC, RD, RS, Rvo,Rrms,RTp,RHTp,Rfd,Rpm |
|
|
* |
WLq,Wda,WLa,WLo,WzJIS,W3z,Wmax,Wtm,Wy,WH,WHSC,WD,WS, Wvo,Wrms,WTp,WHTp,Wfd,Wpm |
|
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* |
應用程序參數 |
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PG, AF, CH |
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| * |
ASME B46.1 |
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Rt, Rp, Rv, Rz, Rpm, Rmax, Ra, Rq, Rsk, Rku, tp, Htp, Pc, Rda,Rdq, RSm, Wt |
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* |
更多參數 |
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|
zui大高度、平均高度、zui小高度、zui大區域、 平均區 域、 zui小區域 | |||
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