Mahr馬爾Perthometer S2粗糙度儀一級供應代理
篤摯儀器（上海）有限公司的產品和系統方案廣泛應用于大中型國有企業、汽車制造業、精密機械、模具加工、電子電力、鑄造冶金、航空航天、工程建筑、大專院校等研究實驗室和生產線、質量控制和教育事業，用于評價材料、部件及結構的幾何特征和理化性能，推動著精良制造技術的精益求精。

Perthometer S2粗糙度儀技術參數：
測量原理   探針接觸測量法
測量范圍
范圍/分辨率  ± 25 μm/0.8 nm
(± 1,000 μin/.032 μin)
± 250 μm/8 nm
(± 10,000 μin,/.315 μin)
± 2,500 μm/80 nm
(± 100,000 μin/3.15 μin)
65,536 步長/垂直范圍
11,200 測量點/標準掃瞄長度
標準  DIN EN ISO/JIS/ASME 46.B
輪廓類型  R, D, P, W (輪廓可例轉) 
垂直方向縮放比例 0.1 μm/div. 至 5,000 μm/div.  或自動
 (3.937 μin/div. 至 .197 in/div.) 
水平方向縮放比例 1 μm/div. 至 5,000 μm/div.  或自動
用于評定長度輪廓   (39.370 μin/div. 至 .197 in/div.) 
圖形 lm 0.40/1.25/4.00/12.50/40.00 mm
(.015/.049/.157/.492/1.575 in)
掃瞄長度 Lt 0.56/1.75/5.6/17.5/56.00 mm
(.022/.070/.224/.700/2.240 in)
掃瞄長度 1/2/4/8/12/16  mm
(MOTIF)  (.040/.080/.160/.320/.480/.640 in)
特殊掃瞄長度 0.56 至 120.00 mm, 可調
(.022 in 至 4.724 in)
取樣長度個數 1 至 5, 可選
濾波器 (根據 ISO/JIS)  相位濾波器 (高斯濾波器), 按照
DIN EN ISO 11562 標準
特殊濾波器  按照 DIN EN ISO 13565-1, 1997;
lc/ls 按照 ISO 3274, ARC 功能
截止波長 lc 0.08/0.25/0.8/2.5/8 mm
(.003/.010/.032/.100/.320 in)
短截止波長 lc/可選   有
參數  Ra, Rq; Rz, Rt, Rp, Rv, RSm, Rdq, 
(帶有公差極限)  Rsk, Rku, Rdc, Rmr, Pmr, Pt, Wt, Pdc
(DIN EN ISO 4287), Wa, HSC, Wg, WSm,
Rz1max, Rmax (DIN 4288),
Rpk, Rk, Rvk, Mr1, Mr2, Pdc, A1, A2
(DIN EN ISO 13565)
Rpmax, Rvmax, Rpc (prEN 10049), R, Ar,
W, Aw, Rx, , Wte, Nr, Ncrx, Nw, CP
(ISO 12085), R3z (DBN 31007), RzJ, S
(JIS B 601)

Perthometer S2粗糙度儀特點介紹：
• 依照現行標準可實現粗糙度和波度測量
  (DIN EN ISO 3274, 例如: 帶通濾波器)
• 重量輕 (不包括內置充電電池)
• 高分辨率的圖形顯示, 可清晰顯示測量結果和輪廓
• 基于自動測量原理和多測量元素, 使得操作更簡單
• 通過內置熱敏打印機, 快速打印測量記錄
• PCMCIA 存儲卡可存儲測量程序、測量結果和輪廓
• S2Prog 擴展程序, 可簡單地建立測量程序
• 通過 PCMCIA 記憶于進行軟件升級
• SPC 接口可實現 S2 與生產程序連接
• RS 232 接口可實現數據傳輸和遠程控制

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